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DCM 8白光共焦干涉顯微鏡

Leica DCM8徠卡錐光偏光顯微鏡采用了非接觸式三維光學表面測量技術。設計用于提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優點的多功能雙核系統。一鍵模式選擇,精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術確保用戶實現超快速的

更新日期:2024-11-28

型號:DCM 8

廠商性質:經銷商

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